[发明专利]具有偏振膜的叠层体带材卷的制造方法有效

专利信息
申请号: 201110259781.2 申请日: 2011-09-05
公开(公告)号: CN102385089A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 喜多川丈治;中园拓矢;后藤周作;宫武稔;森智博;上条卓史 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: G02B5/30 分类号: G02B5/30;G02B1/10;B32B27/08
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 曹立莉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于提供光学膜叠层体带材卷的制造方法。该方法包括:一边沿长度方向传送由具有连续带状偏振膜的光学膜、和粘接于该光学膜的树脂膜构成的光学膜叠层体,一边在该光学膜叠层体的整个宽度方向上赋予参考标记,一边沿长度方向传送该光学膜叠层体,一边进行用以检测光学膜中存在的缺陷的缺陷检查,并在检测到缺陷时,记录该缺陷的位置。然后,平行于长度方向、并以指定宽度切割光学膜叠层体,形成多个指定宽度的连续带状叠层体带材,对于切割得到的各叠层体带材上是否缺陷进行判断,对于判断为存在缺陷的叠层体带材,将该缺陷的相关信息连同识别该带材的识别信息一起存储。再将叠层体带材卷成卷状。
搜索关键词: 具有 偏振 叠层体带材卷 制造 方法
【主权项】:
光学膜叠层体带材卷的制造方法,其包括下述步骤:形成光学膜叠层体的步骤,所述光学膜叠层体由至少具有连续带状偏振膜的光学膜、和粘接在所述光学膜上的树脂膜构成;一边沿长度方向传送上述光学膜叠层体,一边在该光学膜叠层体的整个宽度方向上赋予线状的参考标记、或多个点状的参考标记的步骤;检查步骤,一边沿长度方向传送所述光学膜叠层体,一边进行用以检测上述光学膜存在的缺陷的缺陷检查,并在检测到缺陷时,以相对于上述参考标记的叠层体长度方向位置及宽度方向位置来记录该缺陷的位置;平行于长度方向、并以指定宽度切割上述光学膜叠层体,形成多个指定宽度的连续带状叠层体带材的步骤;对于上述切割得到的各叠层体带材上是否存在上述检查步骤中检测到的缺陷,根据该缺陷的宽度方向位置进行判断,对于判断为存在缺陷的叠层体带材,将该缺陷的相关信息连同识别该带材的识别信息一起存储的步骤;以及,将上述叠层体带材卷成卷状的步骤。
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