[发明专利]一种晶振失效分析的方法无效
| 申请号： | 201110251629.X | 申请日： | 2011-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN102426303A | 公开（公告）日： | 2012-04-25 |
| 发明（设计）人： | 李红高 | 申请（专利权）人： | 上海华碧检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01N21/88;G01N23/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200433 上海市杨*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种晶振失效分析的方法，包括以下步骤：A、对需要分析的晶振样品进行外观分析，寻找可能的失效原因；B、对需要分析的晶振样品进行电学测试，测出频率、等效串联电阻和最大阻抗；C、对需要分析的晶振样品进行开封，并进行电学测试；D、使用光学显微镜对开封后的晶振样品进行内部观察；E、使用扫描电子显微镜对开封后的晶振样品进行内部观察；F、综合分析上述步骤得到的结果，总结出晶振样品失效的原因。本发明有如下优点：本发明利用有限的分析仪器，在短时间内快速找到晶振元件失效的原因，分析详尽完整，为晶振的工艺生产的改进提供有效信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 失效 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种晶振失效分析的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：A、对需要分析的晶振样品进行外观分析，寻找可能的失效原因；B、对需要分析的晶振样品进行电学测试，测出频率、等效串联电阻和最大阻抗；C、对需要分析的晶振样品进行开封，并进行电学测试；D、使用光学显微镜对开封后的晶振样品进行内部观察；E、使用扫描电子显微镜对开封后的晶振样品进行内部观察；F、综合分析上述步骤得到的结果，总结出晶振样品失效的原因。
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