[发明专利]在3D成像系统中测定距离无效
| 申请号: | 201110240885.9 | 申请日: | 2005-07-06 |
| 公开(公告)号: | CN102411144A | 公开(公告)日: | 2012-04-11 |
| 发明(设计)人: | J·迪米斯戴尔 | 申请(专利权)人: | 拓普康定位系统公司 |
| 主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S7/486 |
| 代理公司: | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人: | 杨勇;郑建晖 |
| 地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | 一种对目标成像的系统和方法。在成像平面中安装检测器阵列。所述阵列检测器中的每个检测器都连接到具有内插器的计时电路,其中所述内插器包括以与放电不同的速率对第一电容器充电的第一电路。光脉冲朝目标传输,以便所述光脉冲的一部分作为反射脉冲从所述目标反射,并且记录表示何时所述光脉冲朝所述目标传输的第一数值。所述反射脉冲在一个或多个检测器上被检测,并且记录所述脉冲的脉冲特征和表示何时所述反射脉冲到达所述检测器的第二数值。然后以所述第一和第二数值以及反射脉冲的特征的函数的方式计算到所述目标的距离。 | ||
| 搜索关键词: | 成像 系统 测定 距离 | ||
【主权项】:
一种对目标成像的方法,包括:在成像平面内安装一个或多个检测器;将每个检测器连接到计时电路;将共振器/衰减器连接到所述检测器阵列;生成修正表格,其中生成修正表格包括将校准光脉冲导引到所述共振器/衰减器中以便两个或更多个光脉冲被投射在所述一个或多个检测器上,以及在每个检测器处修正非线性特征;朝目标传输发射光脉冲,以便所述发射光脉冲的一部分作为反射脉冲从所述目标反射,其中传输所述发射光脉冲包括记录第一数值,其中所述第一数值表示所述发射光脉冲何时被朝所述目标传输;检测所述反射脉冲到达所述检测器中的一个或多个,其中检测所述反射脉冲的到达包括:在预定时间间隔内对所述反射脉冲进行积分以测定反射脉冲特征;以及记录第二数值,其中所述第二数值表示所述反射脉冲何时到达所述检测器;以及以所述第一数值和第二数值、所述反射脉冲特征和所述修正表格的函数的方式测量到所述目标的距离。
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