[发明专利]一种采用直径法控制区熔晶体自动生长方法及系统有效
| 申请号: | 201110208855.X | 申请日: | 2011-07-25 |
| 公开(公告)号: | CN102220629A | 公开(公告)日: | 2011-10-19 |
| 发明(设计)人: | 靳立辉;刘嘉;王遵义;王彦君;赵宏波;李立伟;张雪囡;高树良;沈浩平 | 申请(专利权)人: | 天津市环欧半导体材料技术有限公司 |
| 主分类号: | C30B13/30 | 分类号: | C30B13/30 |
| 代理公司: | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人: | 王凤英 |
| 地址: | 300384 天津市西青*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种采用直径法控制区熔晶体自动生长方法及系统。本方法设定生长区间和输入控制参数,当直径大于50mm时,开通控制程序,程序根据测到的单晶直径判断生长区间,调用该区间参数并计算,根据参数和计算值完成控制,一个区间生长完成后,程序进入下一个区间,直至进入到等径生长阶段,根据保持功率设定值进行控制。本系统包括PLC控制器、PC机、摄像头、发生器、触摸屏、上转、下转、上速和下速伺服电机、多晶和单晶旋转电机、多晶和单晶下降电机以及电磁阀、流量计和传感器。采用本方法和系统,大幅提升区熔法大直径单晶的生产能力,减小区熔人为造成的失误及损失,降低区熔单晶生长的人工劳动强度,可有效提高单晶的一致性质量。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 采用 直径 控制区 晶体 自动 生长 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种采用直径法控制区熔晶体自动生长方法,其特征在于,包括如下步骤:(一)、设定生长区间和设置控制参数设定多个自动放肩的单晶直径区间,设置每个单晶直径区间的参数选项,参数选项包括单晶的下降速度、发生器功率、单晶的旋转速度、多晶的旋转速度和单晶的生长速率,然后利用公式Vupper=[(Dcrystal+Rgrowth)/Dpoly]2* Vlower计算出多晶的即时下降速度Vupper,式中Vupper为多晶的下降速度, Vlower为单晶的下降速度, Dpoly为多晶的直径, Dcrystal为单晶的直径,Rgrowth为单晶的生长速率,另外还要设置等径保持阶段的发生器功率;(二)、自动放肩生长经人工放肩后,当单晶直径大于50mm时,开通自动放肩程序,程序根据采集到的单晶直径数据判断直径位于哪个生长区间,然后调用该区间设置参数,根据设定的单晶的下降速度、发生器功率、单晶的旋转速度、多晶的旋转速度参数值完成上转伺服电机、下转伺服电机、下速伺服电机以及发生器功率的控制,根据计算的多晶的即时下降速度参数值完成上速伺服电机的控制,一个直径区间自动放肩生长完成后,程序进入下一个直径区间,接着调用下一个直径区间的设置参数直至最后一个直径区间,以此来实现控制各直径区间的自动放肩生长;(三)、自动等径生长单晶直径自动放肩生长完成后,进入到等径生长阶段,此时程序根据保持功率设定值完成发生器功率的控制,自动等径生长结束。
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