[发明专利]一种纳米结构的图形转移制作方法无效
| 申请号: | 201110190018.9 | 申请日: | 2011-07-07 |
| 公开(公告)号: | CN102323716A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
| 发明(设计)人: | 马志波;姜澄宇;苑伟政 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
| 主分类号: | G03F7/00 | 分类号: | G03F7/00;B81C1/00 |
| 代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 吕湘连 |
| 地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种纳米结构的图形转移制作方法,属于集成电路和微纳电子机械系统加工领域。本发明以光刻胶作为掩膜,基于普通光刻机在一次套刻的工艺条件下,对微米级线条进行部分曝光,刻蚀金属,将微米级线条变为纳米级线条,实现纳米级结构尺寸的图形转换,他将广泛应用于MEMS和集成电路工艺中,使纳米器件工艺简化,降低成本。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 纳米 结构 图形 转移 制作方法 | ||
【主权项】:
一种纳米结构的图形转移制作方法,包括如下步骤:步骤1:标准清洗玻璃基底片(1),在洁净的玻璃基底片(1)正面溅射金属(2),并在金属(2)上旋涂光刻胶(3);步骤2:以线宽为A结构的掩模板为掩膜,在正面旋涂光刻胶(3)的玻璃基底片(1)上进行曝光,显影,此时线宽为A结构的图形转移到玻璃基底片(1)正面的光刻胶(3)上;继续以光刻胶(3)为掩膜刻蚀金属(2),最后去除光刻胶(3);步骤3:在去除光刻胶(3)的玻璃基底片(1)上喷涂第二层光刻胶(3),保证金属(2)表面光刻胶(3)的均匀性;步骤4:再以步骤2中使用的线宽为A结构的掩模板为掩膜,通过对准标记进行套刻对准,使得该对准与步骤2中的光刻对准错开距离B,将玻璃基底片(1)上的A线宽的B部分进行曝光,显影,将玻璃基底片(1)上的(A‑B)线宽的结构部分被光刻胶(3)保护;步骤5:以光刻胶(3)为掩膜,刻蚀金属(2),将暴露部分的金属(2)刻蚀干净;步骤6:去除光刻胶(3),玻璃基底片上的金属结构的线宽变为(A‑B),至此,纳米结构制作完成。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北工业大学,未经西北工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110190018.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:涂胶工艺的缺陷监控方法
- 下一篇:亮度调制无扫描激光三维成像方法





