[发明专利]变压器综合装置的测试方法无效

专利信息
申请号: 201110153252.4 申请日: 2011-06-09
公开(公告)号: CN102253296A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 周彦;江福官;王勤;查坚卿;朱萍;陶燕;盛守贫;周辉 申请(专利权)人: 上海市电力公司;保定市泰达电力设备有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张妍
地址: 200002 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开一种变压器综合装置的测试方法,该方法包含以下步骤:1、系统进行初始设置,进行系统硬件功能检验和继电器的系统复位;2、后台处理模块选择测试项目,进行测试;3、系统测试和计算完成,复位继电器阵列中所有继电器,并跳转至步骤2。本发明对变压器进行多种检测,解决了由于每次检测都要更换检测装置,而频繁攀爬变压器的问题,只需要一次攀爬变压器,将检测装置安装在变压器上,便可对变压器进行多种参数检测以确保变电器工作正常,采用本发明的方法检测,可改善变压器安全性、可靠性,同时减轻繁重的工作任务,增加工作的实效性。
搜索关键词: 变压器 综合 装置 测试 方法
【主权项】:
一种变压器综合装置的测试方法,其特征在于,该方法包含以下步骤:步骤1 系统进行初始设置,进行系统硬件功能检验和继电器的系统复位;步骤2 后台处理模块(7)选择测试项目,若选择直流电阻测试,则跳转到步骤2.1,若选择有载调压分接开关测试,则跳转到步骤2.2,若选择低电压短路阻抗测试,则跳转到步骤2.3;步骤2.1 系统对变压器进行直流电阻测试;步骤2.2 系统对变压器进行有载调压分接开关测试;步骤2.3 系统对变压器进行低电压短路阻抗测试;步骤3 系统测试和计算完成,复位继电器阵列中所有继电器,并跳转至步骤2。
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