[发明专利]晶片传送装置以及具有其的位置感应系统和可视检查系统有效
| 申请号: | 201110148080.1 | 申请日: | 2011-05-25 |
| 公开(公告)号: | CN102263160A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
| 发明(设计)人: | 李暻植;金昌显;林裁瑛 | 申请(专利权)人: | 韩美半导体株式会社 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/677;H01L21/66;G01S17/06 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;钟强 |
| 地址: | 韩国仁*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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| 摘要: | 本发明涉及了一种晶片传送装置,其用于在检查晶片期间稳定传送晶片,从而改善总厚度变化检测的可靠性,以及一种具有其的位置感应系统和可视检查系统。 | ||
| 搜索关键词: | 晶片 传送 装置 以及 具有 位置 感应 系统 可视 检查 | ||
【主权项】:
一种晶片传送装置,包括:传送带,用于在晶片放在传送带上的状态下传送晶片;一对驱动传送带的带轮;和抽吸组块,设在传送带内部空间中,用于将吸力施加到传送带内表面。
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