[发明专利]多光束激光外差二次谐波测量磁致伸缩系数的装置及测量方法

摘要

多光束激光外差二次谐波测量磁致伸缩系数的装置及测量方法，涉及一种测量磁致伸缩系数的装置及测量方法，它解决了现有采用多光束激光外差测量磁致伸缩系数的方法由于激光差频信号采集效果差、信号处理的运算速度慢导致的测量精度较低的问题。本发明通过在光路中引入振镜，使不同时刻入射的光信号附加了一个光频，这样经过薄玻璃板前表面的反射光和平面反射镜多次反射的光在满足干涉的条件下，产生多光束外差二次谐波信号，将待测信息成功地调制在中频外差二次谐波信号的频率差中，从而实现对磁致伸缩系数的测量。本发明适用于测量磁致伸缩系数。

主权项

多光束激光外差二次谐波测量磁致伸缩系数的装置，其特征是：它包括第一固定棒(1‑1)、第二固定棒(1‑2)、激励线圈(2)、待测铁镍合金样品(3)、直流稳压电源(4)、平面反射镜(5)、不计厚度薄玻璃板(6)、偏振分束镜PBS(7)、H0固体激光器(8)、四分之一波片(9)、振镜(10)、会聚透镜(11)、光电探测器(12)和信号处理系统(13)，直流稳压电源(4)用于给激励线圈(2)提供工作电源，待测铁镍合金样品(3)居中放置在激励线圈(2)形成的筒形空间内，待测铁镍合金样品(3)的一端固定连接第一固定棒(1‑1)的一端，该第一固定棒(1‑1)的另一端固定设置，待测铁镍合金样品(3)的另一端固定连接第二固定棒(1‑2)的一端，该第二固定棒(1‑2)的另一端粘接平面反射镜(5)的非反射面，平面反射镜(5)的反射面与待测铁镍合金样品(3)的轴线垂直；第一固定棒(1‑1)和第二固定棒(1‑2)大小相同，并且两根固定棒、待测铁镍合金样品(3)和激励线圈(2)同轴设置；在平面反射镜(5)的反射面一侧距离d处，与该平面反射镜(5)平行设置有不计厚度薄玻璃板(6)；H0固体激光器(8)发出的线偏振光经偏振分束镜PBS(7)反射后入射至四分之一波片(9)，经该四分之一波片(9)透射后的光束入射至振镜(10)的光接收面，经该振镜(10)反射的光束再次经四分之一波片(9)透射后发送至偏振分束镜PBS(7)，经该偏振分束镜PBS(7)透射后的光束入射至不计厚度薄玻璃板(6)，经该不计厚度薄玻璃板(6)透射之后的光束入射至平面反射镜(5)，该光束在相互平行的不计厚度薄玻璃板(6)后表面和平面反射镜(5)之间反复反射多次，获得多束经不计厚度薄玻璃板(6)透射之后的光束和不计厚度薄玻璃板前表面的反射光束一起通过会聚透镜(10)汇聚至光电探测器(4)的光敏面上，所述光电探测器(4)输出电信号给信号处理系统(5)。