[发明专利]基于位相复用的全量程扫频OCT成像方法及系统无效
申请号: | 201110141036.8 | 申请日: | 2011-05-26 |
公开(公告)号: | CN102188237A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | 丁志华;吴彤;黄良敏;陈明惠;王川;王保勇 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00;A61B10/00 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 林怀禹 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于位相复用的全量程扫频OCT成像方法及系统。在扫频OCT系统的参考臂中设置电光调制器,实现干涉光谱的高速相位调制。通过数据采集卡与电光调制器间的触发同步,使采集到的干涉光谱相邻采样点之间保持预设的相位变化,实现单次扫频周期内干涉光谱的位相复用采集,将采集到的干涉光谱数据采样点按其所对应的附加相位进行分组,然后分别映射到对应同一等间隔采样点的波数空间,形成波数空间的相移干涉光谱数据子集。利用相移干涉光谱数据子集可构建复干涉光谱数据,重建全量程扫频OCT图像。基于电光调制的单次扫频周期内干涉光谱的位相调制与复用,相移速度快、精度高,镜像抑制率高,可实现感兴趣深度区域的高灵敏度成像。 | ||
搜索关键词: | 基于 位相 量程 oct 成像 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种基于位相复用的全量程扫频OCT成像方法,其特征在于:在扫频光学相干层析成像系统的参考臂中设置电光调制器,在参考光中引入附加相位,实现干涉光谱信号的高速相位调制;通过数据采集卡与电光调制器之间的同步触发,使相邻干涉光谱采样点之间存在预设的相位变化,实现单次扫频周期内干涉光谱的位相复用采集;将采集到的干涉光谱数据按其所对应的附加相位进行分组,得到若干组对应于同一附加相位的干涉光谱数据子集,然后分别将每组时间域采集的对应于同一附加相位的干涉光谱数据子集映射到预设等波数间隔坐标的波数空间,即利用这些等波数间隔分布的相移干涉光谱数据子集构建复干涉光谱数据;根据复干涉光谱数据,重建感兴趣深度区域的高灵敏度全量程扫频OCT成像;该方法的具体步骤如下:1)调节函数发生器,产生一路相位调制驱动信号,输入到参考臂中的电光调制器,对参考光引入附加相位,参考光与样品光汇合之后形成的干涉光谱的相位即受此附加相位调制;2)设置系统各部分硬件同步工作,使扫频光源输出的触发信号同时触发函数发生器产生波形和数据采集卡采集数据,并且数据采集卡采集频率设置为函数发生器产生的相位调制信号频率的3~5倍,使采集到的相邻数据点之间存在预设的相位变化;3)由数据采集卡采集到的干涉光谱信号,由于相邻数据点间具有预设的附加相位变化,将具有同一附加相位的数据点分为一组,可形成3~5组对应于不同附加相位的干涉光谱数据子集,分别将每组时间域采集的对应于同一附加相位的干涉光谱数据子集映射到预设等波数间隔坐标的波数空间,利用这些等波数间隔分布的相移干涉光谱信号子集构建复干涉光谱信号,重建感兴趣区域的高灵敏度全量程扫频OCT成像。
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