[发明专利]基于高分辨率合成孔径雷达图像的舰船检测方法无效

专利信息
申请号: 201110140973.1 申请日: 2011-05-30
公开(公告)号: CN102208017A 公开(公告)日: 2011-10-05
发明(设计)人: 王英华;刘宏伟 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/62;G01S13/90
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提出了一种基于高分辨率合成孔径雷达SAR图像的舰船检测方法,主要解决现有检测与鉴别技术应用于高分辨率图像时,整体检测性能差的问题。其实现步骤是:将原始图像分解为一组子孔径图像;利用多幅子孔径图像之间的相位相关性信息和各个子孔径图像的幅度信息获取二值目标检测结果;对该结果进行后处理以提取候选目标切片;对候选目标切片进行目标与背景的分割后,提取三个现有鉴别特征和一个基于协方差矩阵的新特征,生成特征向量;使用适用于小样本问题的K近邻鉴别器完成目标鉴别。本发明具有目标检测精度与鉴别性能高的优点,可用于高分辨率SAR图像中海面舰船目标的检测。
搜索关键词: 基于 高分辨率 合成孔径雷达 图像 舰船 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于高分辨率合成孔径雷达图像的舰船检测方法,包括:(1)预先筛选步骤:1a)将原始的单视复数型SAR图像分解为N幅子孔径图像,2≤N≤16;1b)对原始图像中的每一个像素点s,计算N幅子孔径图像中对应像素点处的N个随机变量si,i=1,2,...,N之间的归一化相关矩阵Rs,并计算检测统计量图像中对应像素点处的值ρIC:ρIC=log[<|s1|2><|s2|2>...<|sN|2>(1-|Rs|)]其中,|si|表示si的模值,|Rs|表示Rs的行列式,<g>表示空间平均,log(g)表示取自然对数;将检测统计量图像中每一个像素点的值ρIC与根据检测虚警率设定的全局门限Tρ相比,如果ρIC>Tρ,则二值检测结果图像Ibw中对应像素点赋值为1且被视为目标像素,否则赋值为0且被视为背景杂波;1c)对二值检测结果图像Ibw进行后处理,以提取出Nc幅候选目标切片其中Gi表示第i个候选目标切片,它是从原始图像中切割出来的一幅Lc×Lc大小的单视复数图;(2)目标鉴别步骤:2a)对每一幅候选切片图像Ci,进行目标与背景的分割,得到一幅分割标记图像,其中目标像素点都具有标记值1,背景像素点都具有标记值0,将标记值为1的像素点集合记为Rtg,像素点数目记为Ntg;2b)根据像素点集合Rtg中的像素点数目和像素点的值,提取以下四个鉴别特征:2b1)提取标准差特征:f1=S2-S12/NtgNtg-1]]>其中,S1=ΣsRtg10log10Is]]>S2=ΣsRtg(10log10Is)2]]>Is表示像素点集合Rtg中的像素点s的强度值;2b2)提取分形维特征:其中M1是最亮点二值图像中标记值为1的像素数目,M2是使用2×2像素大小的盒子覆盖最亮点二值图像中标记值为1的像素点所需要的最少盒子数目;该最亮点二值图像是通过将切片图像Ci中强度值最大的50个像素点标记为1,其余像素点标记为0而得到;2b3)提取排列能量比特征:其中k个最亮的像素点取为Rtg中前5%强度值最大的像素点;2b4)提取基于协方差矩阵描述符的新特征:其中,||g||2表示欧氏范数,CR是使用Rtg中的像素点值计算得到的协方差矩阵,是训练集、验证集以及测试集中所有候选切片对应的协方差矩阵的均值,表示均值处的对数映射,表示均值处的向量算子;2c)根据已提取的四个特征,生成特征向量f=[f1 f2 f3 f4]T;2d)基于特征向量f,使用K近邻鉴别器计算鉴别统计量Dt(f),并将Dt(f)与根据验证样本集设定的鉴别门限Tt相比,当Dt(f)≤Tt时,特征向量f对应的切片图像则认为是真实目标切片,否则为虚警。
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