[发明专利]硼铝源一次全扩散生产KP整流芯片的方法有效
| 申请号: | 201110133071.5 | 申请日: | 2011-05-23 |
| 公开(公告)号: | CN102208345A | 公开(公告)日: | 2011-10-05 |
| 发明(设计)人: | 于能斌;王景波 | 申请(专利权)人: | 鞍山市华辰电力器件有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/332 | 分类号: | H01L21/332;H01L21/22 |
| 代理公司: | 鞍山嘉讯科技专利事务所 21224 | 代理人: | 张群 |
| 地址: | 114011 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | 本发明涉及硼铝源一次全扩散生产KP整流芯片的方法,包括硅片清洗、扩散、氧化、一次光刻、磷扩、割圆、烧结、蒸铝、二次光刻、台面腐蚀,其特征在于,所述扩散工序为一次全扩散,具体包括以下步骤:硼源、铝源制备和一次全扩散,扩散时保证石英闭管中硼源片和铝源片在待扩硅片中分布均匀,当表面浓度和结深达标时扩散完成。与现有技术相比,本发明的有益效果是:在PN结的生产制造过程中,采用硼铝两种元素扩散源,一次高温扩散成型,相同规格的大功率高压整流芯片产品对比,电压提高了800V~1000V,产品使用寿命多出500小时以上,减少了磷扩时间4~5小时,提高了扩散效率,硅单晶片的损伤减少,提高了成品率。 | ||
| 搜索关键词: | 硼铝源 一次 扩散 生产 kp 整流 芯片 方法 | ||
【主权项】:
硼铝源一次全扩散生产KP整流芯片的方法,包括硅片清洗、扩散、氧化、一次光刻、磷扩、割圆、烧结、蒸铝、二次光刻、台面腐蚀,其特征在于,所述扩散工序为一次全扩散,具体包括以下步骤:1)硼源、铝源制备:(1)硼源制备:a.配制三氧化二硼溶液,取三氧化二硼∶优级无水乙醇=10g∶100ml,用超声波把溶液均匀超开;b.制源用硅片清洗,先将硅片摆放在石英舟上,放入石英箱中,用1#液和2#液煮,各2遍,每次10分钟,再用去离子水冲净,烘干备用;c.清洗石英闭管,首先用氢氟酸溶液漂30分钟,用去离子水冲洗,然后用王水泡2h~4h,用大量去离子水冷热交替冲洗,冲完放入烘箱中烤干备用;d.硅片涂源,先将硅片从烘箱中取出,放在操作台里,取三氧化二硼溶液倒入石英皿里,然后依次放入硅片,硅片涂源后取出烤干,重复4~5次,装入石英闭管里,用氢氧焰将石英闭管两头封上,充高纯氩气,石英闭管用电火花真空检测器检测,呈粉红色时推入扩散炉恒温区,温度1250±1℃,时间为19h~20h,当表面浓度为0.3~0.5R□/Ω时即为硼源片,备用;(2)铝源制备a.铝丝腐蚀,取99.999%的高纯铝丝,用盐酸腐蚀液漂30秒,盐酸腐蚀液配制比例为,盐酸∶去离子水=1∶1,漂完用去离子水冲净,烤干备用;b.制源用硅片清洗,先将硅片摆放在石英舟上,放入石英箱中,用1#液和2#液煮,各2遍,每次10分钟,再用去离子水冲净,烘干备用;c.将烧结炉温升至700℃~705℃,然后将前述腐蚀过的铝丝弯成“S”形,分别摆放硅片上,将硅片放在石英板上推入真空烧结炉中,真空烧结炉真空度为3×10‑3Mpa,待恒温后计时2分钟,然后直接推开炉体,降温后取出,硅片与铝丝焊成一体即为铝源片;2)一次全扩散(1)扩前预处理a.清洗石英环、石英片、硼源片和镊子,用去离子水洗2遍,每次10分钟,烘干备用;b.清洗石英闭管,先将石英闭管漂氢氟酸溶液30分钟,冲水后,再泡王水2h~4h,取出石英闭管,用冷、热去离子水交替冲20遍,放入烘箱中烘干备用;c.铝源片处理,将铝源片放入塑料槽中,放入盐酸腐蚀液,漂30秒后冲去离子水20遍,烘干备用;d.硅片处理,将待扩硅片分别摆放在石英舟上,放入石英箱中,倒入去油清洗剂,用超声波清洗4h以上,分别用1#液和2#液煮2遍,每次10分钟,用去离子水冲干净,放入温度180℃烘箱中,烘烤3h~4h,烤干备用;(2)将石英片、待扩硅片、石英片、硼源片、石英环、铝源片、石英片、待扩硅片依次放入石英闭管中,保证硼源片和铝源片在待扩硅片中分布均匀,用氢氧焰将石英闭管两头封上,充高纯氩气,石英闭管用电火花真空检测器检测,呈粉红色时推入扩散炉恒温区,温度1250±1℃,时间为20h~21h,当硅片厚度选用400±10mm时,电阻率为60~80Ωm,表面浓度为40R□/Ω~60R□/Ω,结深为70μm~75μm时扩散完成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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