[发明专利]基于光源光强正弦调制的双折射检测装置和检测方法

摘要

一种基于光源光强正弦调制的双折射检测装置和检测方法，光强经过正弦调制后的激光束，通过起偏器、第一光弹调制器、被测物体、第二光弹调制器和检偏器后由光电探测器检测，光电探测器检测的信号经过处理，得到谐波信号，由谐波信号得到被测物体双折射的延迟δ和主轴角度ρ。本发明的测量结果不受直流噪声(直流项，趋势项，非线性放大等)的影响，可以在保证精度的同时，测量低透过率光学材料的双折射。

主权项

一种基于光源光强正弦调制的双折射检测装置，包括光源(1)，特征在于其构成包括沿装置系统光轴依次设置的光源(1)，光强正弦调制频率为ω0的光强调制器(2)及其正弦调制信号发生器(10)，透光轴角度为45°的起偏器(3)，快轴角度为0°、峰值延迟量δ10＝2.405rad、调制频率为ω1的第一光弹调制器(4)，被测物体(5)，快轴角度为45°、峰值延迟量δ20＝2.405rad、调制频率为ω2的第二光弹调制器(6)，透光轴角度为0°的检偏器(7)和光电探测器(8)，还有数据处理模块(9)，所述的数据处理模块(9)包括锁相放大器和数据处理程序，该数据处理模块(9)分别与所述的正弦调制信号发生器(10)、第一光弹调制器(4)、第二光弹调制器(6)和光电探测器(8)相连；所述的光源(1)产生的激光束经过起偏器(3)后成为45°线偏振光，其偏振态被第一光弹调制器(4)调制后通过被测物体(5)，携带被测物体(5)双折射信息的激光束经过第二光弹调制器(6)调制和检偏器(7)检偏后，其光强信号I被光电探测器(8)检测，送所述的数据处理模块(9)进行处理。