[发明专利]一种光源老化试验测量装置有效
| 申请号： | 201110122011.3 | 申请日： | 2011-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN102288389A | 公开（公告）日： | 2011-12-21 |
| 发明（设计）人： | 潘建根 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光源老化试验测量装置，装置设有稳定发光的参比光源，在被测光源老化前后，测量仪表通过比较测量参比光源和被测光源的光学参数，以此消除或校正了由测量仪表自身变化而引入的不确定因素，大幅提高了光源老化试验的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光源 老化试验 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种光源老化试验测量装置，包括试验室(1)，在试验室(1)内设有被测光源(2)和取样装置(4)，其特征在于，试验室(1)内设有参比光源(6)，或者所述的参比光源(6)设置在试验室(1)外，通过导光器(14)将参比光源(6)所发出的光线导入到试验室(1)内；所述的被测光源(2)和参比光源(6)与可程控供电电源(3)电连接；所述的取样装置(4)接收被测光源(2)和参比光源(6)发出的光线，并将光信号传输到与其相连接的测光仪表(5)中。
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