[发明专利]用于EB或EUV平版印刷的化学放大正性抗蚀剂组合物和图案化方法有效

专利信息
申请号: 201110121500.7 申请日: 2011-02-16
公开(公告)号: CN102243439A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: 增永惠一;渡边聪;田中启顺;土门大将 申请(专利权)人: 信越化学工业株式会社
主分类号: G03F7/039 分类号: G03F7/039;G03F7/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 任宗华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种用于EB或EUV平版印刷的化学放大正性抗蚀剂组合物,其包括(A)聚合物或聚合物共混物,其中聚合物或聚合物共混物的薄膜不可溶于碱性显影剂,但是在酸的作用下变为可溶于其中,(B)酸产生剂,(C)碱性化合物,和(D)溶剂。碱性化合物(C)为包括带有侧链的重复单元的聚合物,并且构成作为组分(A)的一种聚合物或多种聚合物的一部分或全部,所述侧链具有仲胺或叔胺结构作为碱性活性位点。
搜索关键词: 用于 eb euv 平版印刷 化学 放大 正性抗蚀剂 组合 图案 方法
【主权项】:
一种用于EB或EUV平版印刷的化学放大正性抗蚀剂组合物,包括(A)聚合物或聚合物共混物,至少一种聚合物具有被酸去保护的保护基,其使得聚合物或聚合物共混物的薄膜不可溶于碱性显影剂,但是在酸的作用下变为可溶于其中,(B)能够产生酸的酸产生剂,(C)用于抑制酸作用的碱性化合物,和(D)溶剂,其中作为组分(C)的碱性化合物为包括带有侧链的重复单元的聚合物,并且构成作为组分(A)的至少一种聚合物,所述侧链具有仲胺或叔胺结构作为碱性活性位点,和该组合物可以任选进一步包括以每摩尔作为组分(B)的酸产生剂计,用量为至多1/20摩尔的分子量为至多1,000的化合物作为不同于聚合物形式的碱性化合物的组分(C)。
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