[发明专利]结构构件整体几何初始缺陷测量方法

摘要

结构构件整体几何初始缺陷测量方法属于结构构件的缺陷测量领域。采用最常用的测量工具：普通光学经纬仪和游标卡尺；通过将经纬仪安装在三脚架上，固定其竖轴，利用绕水平轴转动的镜筒使十字叉丝交点在构件附近定位出一个虚拟的参考直线；游标卡尺用以测量构件不同横截面处构件棱边至参考直线间的距离。构件可以平躺、也可以竖直固定在地面上，对场地和构件辅助固定装置无特殊要求；测量精度大大提高，方法简单实用。

主权项

一种结构构件整体几何初始缺陷实用测量方法，其特征在于，采用光学经纬仪和游标卡尺，并按照以下步骤进行测量：(1)将需要测量的构件平躺或竖直固定在地面上；(2)将经纬仪安装在三脚架上，固定其竖轴，利用绕水平轴转动的镜筒使所述经纬仪的十字叉丝交点在所述构件附近定位出一个虚拟的参考直线，所述直线位于所述构件一侧，并与所述构件的纵向棱边平行；(3)采用游标卡尺测量所述构件的纵向棱边至所述参考直线间的距离；(4)测量同一横截面位置处所述构件的纵向棱边至参考直线间的距离，并根据几何关系计算得出该横截面处该棱边偏离所述构件两端连线的距离，即棱边的偏离值；测量同一横截面位置处的不同棱边，并取不同棱边的偏离值的平均值作为该横截面的偏离值；(5)测量所述构件不同横截面的偏离值，并取不同横截面的偏离值的最大值作为所述构件的整体几何初始缺陷。