[发明专利]一种测算Pb-Sn-Al层状复合材料界面电阻率的方法

摘要

本发明涉及一种测量计算Pb-Sn-Al层状复合材料界面电阻率的方法，属层状块体材料界面电阻率测算技术领域。假设有一个界面无接触电阻且与待测材料具有相同形状和横截面积的Pb-Al材料参照体，通过四点共线探针法测量电阻法，测得被测体总电阻及Al、Pb基体材料电阻R_Al和R_Pb，通过扫描电镜微尺度标定技术，测得被测体的Pb基体宽度l^’_Pb、Al基体宽度l_Al、单侧界面宽度l_界面和横截面面积s，并计算出被测Pb-Sn-Al层状复合块体材料的Al、Pb基体的电阻率，通过公式，得出参照体电阻，再根据公式，计算获得界面电阻率。具有操作方便，计算方法简便易行，被测层状复合块体材料界面宽度可达到微米级以下等优点。

主权项

1.一种测算Pb-Sn-Al金属层状复合材料界面电阻率的方法，其特征在于具体步骤如下：（1）假设有一界面没有接触电阻存在、且与被测体Pb-Sn-Al层状复合块体材料具有相同形状和横截面积s的Pb-Al层状复合块体材料参照体，参照体与被测体满足条件、和，其中，l_Pb为参照体Pb基体的宽度，l^’_Pb为被测体Pb基体的宽度，l_界面为被测体单侧界面的宽度，l_Al和l^’_Al分别为参照体和被测体Al基体的宽度，R_Al 和R^’_Al分别为参照体和被测体Al基体的电阻；（2）采用普通四探针测量法，分别测出Pb-Sn-Al层状复合块体材料的总电阻、以及Al、Pb基体材料的电阻R_Al和R_Pb，再测量出待测体Pb-Sn-Al层状复合材料的横截面面积s及其Pb基体宽度l^’_Pb、Al基体宽度l_Al和单侧界面宽度l_界面；（3）根据测量数据和电阻定义式，通过多次测量求平均值的方法，分别计算出Pb-Sn-Al层状复合块体材料的Al和Pb基体材料的电阻率；（4）将上述步骤测量和计算所得数据，代入公式，计算得到Pb-Al层状复合块体材料参照体的电阻，再根据公式，计算获得界面电阻率。