[发明专利]宇航用元器件热环境适应性评价方法无效
| 申请号： | 201110093803.2 | 申请日： | 2011-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN102180272A | 公开（公告）日： | 2011-09-14 |
| 发明（设计）人： | 张文俊;付桂翠;万博;张素娟;范峥 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | B64G7/00 | 分类号： | B64G7/00 |
| 代理公司： | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人： | 王顺荣;唐爱华 |
| 地址： | 100191 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 宇航用元器件热环境适应性评价方法，步骤如下：1：确定是否必须进行试验评价：根据元器件类别和应用要求等级确定是否必须进行热环境适应性验证试验；2：确定试验项目：对元器件的热敏感要素进行分析，综合分析后确定试验项目；3：确定试验应力水平：分析元器件在具体应用中所处的热环境应力水平，在此基础上确定试验应力水平；4：元器件热环境应用验证试验的实施；5：试验结果评价：根据确定的评价判据判断元器件在具体宇航产品中的适用性。本方法的优点有：评估试验更具合理性与针对性，可操作性强。 | ||
| 搜索关键词： | 宇航 元器件 环境 适应性 评价 方法 | ||
【主权项】：
宇航用元器件热环境适应性评价方法，其特征在于：该方法具体步骤如下：步骤1：确定是否必须进行试验：根据元器件类别和应用要求等级确定是否必须进行热环境适应性验证试验；步骤2：确定试验项目：对元器件的热敏感要素进行分析，综合分析后确定试验项目；步骤3：确定试验应力水平：分析元器件在具体应用中所处的热环境应力水平，在此基础上确定试验应力水平；步骤4：元器件热环境应用验证试验的实施：根据步骤2和3确定的试验项目和试验应力进行试验，试验为板级验证试验，其中元器件应处于正常工作状态，且试验过程中要求对元器件功能和壳温进行实时监控；试验样品要求为：经鉴定、筛选合格的元器件；步骤5：试验结果评价：根据确定的评价判据判断元器件在具体宇航产品中的适用性。
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