[发明专利]新型的适于测试级使用的射频同轴电缆的结构

摘要

本发明涉及一种射频同轴电缆的结构，尤其是涉及一种新型的适于测试级使用的射频同轴电缆的结构。现有的射频同轴电缆的结构的缺陷为测试精度差，实用寿命短。一种新型的适于测试级使用的射频同轴电缆的结构，包括线芯，其特征在于：所述的线芯上依次绕设有绝缘体、外导体一、外导体二、护套一、弹簧编织层、护套二、过渡层、护套三。本发明采用了弹簧结构又将护套和尼龙编织网通过带胶层紧紧的连接在了一起，基本上完全消除了由于外部受力或扭转对内部电缆的影响，从而保证了测试电缆的精度且可以减少由于测试电缆的本身测试误差而影响所测试电缆的性能指标，由于电缆外层的保护结构还可以延长测试电缆的机械弯曲使用寿命。

主权项

一种新型的适于测试级使用的射频同轴电缆的结构，包括线芯（1），其特征在于：所述的线芯（1）上依次绕设有绝缘体（2）、外导体一（3）、外导体二（4）、护套一（5）、弹簧（6）、编织层（7）、护套二（8）、过渡层（9）和护套三（10）。