[发明专利]一种用于纳、微米级薄膜材料拉伸测试的对中加载装置有效
| 申请号: | 201110076605.5 | 申请日: | 2011-03-29 |
| 公开(公告)号: | CN102221499A | 公开(公告)日: | 2011-10-19 |
| 发明(设计)人: | 门玉涛;王世斌;李林安 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
| 主分类号: | G01N3/02 | 分类号: | G01N3/02;G01N3/08 |
| 代理公司: | 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 | 代理人: | 侯力 |
| 地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | 一种用于纳、微米级薄膜材料拉伸测试的对中加载装置,由反向螺纹对中加载框架和柔顺铰链加载传感部件构成;反向螺纹对中加载框架包括底板、立板、导向杆、滑板、导向槽块、调节丝杠和手轮,位于两块立板之间的调节丝杠设有左右旋丝杠螺纹,两个滑板上的中心丝杠螺孔分别与调节丝杠上的左右旋丝杠螺纹配合并沿两根导向杆作同步相对移动;柔顺铰链加载传感部件为整体式框架结构,其中间为对称设置的两个用于粘贴应变片的“S”型传感件。本发明的优点是:结构紧凑、体积小,适用于显微镜下直接观察测量;采用柔顺铰连接框架结构并与传感器做成一体,可提高测量精度并有效地测量和评价纳、微级薄膜基底结构试件的界面结合性能和薄膜的拉伸断裂性能。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 用于 微米 薄膜 材料 拉伸 测试 加载 装置 | ||
【主权项】:
一种用于纳、微米级薄膜材料拉伸测试的对中加载装置,其特征在于:由反向螺纹对中加载框架和柔顺铰链加载传感部件构成,反向螺纹对中加载框架包括底板、两块立板、两根导向杆、两个滑板、两个导向槽块、调节丝杠和手轮,两块立板和底板固定构成凹型框体,两块立板上分别设有中心孔并设置轴承,两根导向杆位于凹型框体的两侧并分别与两块立板固定,两个滑板均呈“T”型并相对设置,滑板上设有两个圆孔和一个中心丝杠螺孔,两个圆孔与两根导向杆滑动配合,两个导向槽块设有“U”型导向槽并分别固定于底板的两侧,调节丝杠固定于两块立板中心孔轴承内,位于两块立板之间的调节丝杠以中点为界两边分别为左右旋丝杠螺纹,两个滑板上的中心丝杠螺孔分别与调节丝杠上的左右旋丝杠螺纹配合并沿两根导向杆作同步相对移动,调节丝杠的一端通过立板限定,另一端伸出立板并固定有手轮;柔顺铰链加载传感部件采用柔顺铰连接并与传感件做成一体的整体式框架结构,通过两个边框搭设于两个滑板的“T”型横撑上,柔顺铰链加载传感部件的中间为对称设置的两个用于粘贴应变片的“S”型传感件,两个“S”型传感件的端面分离用于检测,两个“S”型传感件与柔顺框架做成一体,其一端上部分别设有用于固定试件的螺钉,另一端框架底部分别设有导向柱,两个导向柱分别与两个导向槽块上的导向槽滑动配合。
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