[发明专利]连续光谱双向反射分布函数测量装置无效
| 申请号： | 201110033559.0 | 申请日： | 2011-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN102175650A | 公开（公告）日： | 2011-09-07 |
| 发明（设计）人： | 王付刚;王治乐;张伟;汪洪源 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55;G01N21/25;F16M11/06;F16M11/18 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 岳泉清 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 连续光谱双向反射分布函数测量装置，它属于光谱学、计算机图形学和机器视觉领域，它解决了现有装置不能够在可见光波段内测量连续光谱BRDF的问题。样品环的中心点为旋转中心，并安在样品水平和竖直方向旋转支架上，所述支架用于带动样品环以旋转中心为中心点在水平面和垂直于水平面的竖直面上旋转；光纤探头安探测器位置调整支架上，并光路指向旋转中心，所述支架用于带动光纤探头以旋转中心为中心点在水平面上旋转，带动光纤探头做运动轨迹穿过旋转中心的一维直线运动，光纤探头信号输出端连光谱仪输入端；旋转控制器用于所述的两个支架的旋转；PC机连光谱仪和旋转控制器；光源组件光束照射在样品环上。应用于测量在可见光波段内的连续光谱BRDF。 | ||
| 搜索关键词： | 连续光谱 双向 反射 分布 函数 测量 装置 | ||
【主权项】：
连续光谱双向反射分布函数测量装置，其特征在于它包括光源组件(2)、探测器组件、测量架组件和控制及数据处理PC机(1)；探测器组件包括光纤探头(31)和光谱仪(32)，测量架组件包括样品环(40)、样品水平和竖直方向旋转支架(41)、探测器位置调整支架(42)和旋转控制器(43)；样品环(40)安装在样品水平和竖直方向旋转支架(41)上，所述的样品环(40)的中心点为旋转中心，所述的样品水平和竖直方向旋转支架(41)用于带动样品环(40)以旋转中心为中心点在水平面上和垂直于水平面的竖直面上旋转；光纤探头(31)安装在探测器位置调整支架(42)上，并且光纤探头(31)的光路指向旋转中心，所述的探测器位置调整支架(42)用于带动光纤探头(31)以旋转中心为中心点在水平面上旋转，还用于带动光纤探头(31)做一维直线运动，所述运动轨迹的直线穿过旋转中心，光纤探头(31)的信号输出端连接光谱仪(32)的输入端；旋转控制器(43)用于控制样品水平和竖直方向旋转支架(41)和探测器位置调整支架(42)的旋转；光谱仪(32)的测量信号输出端和旋转控制器(43)的控制信号输入端分别连接控制及数据处理PC机(1)的测量信号输入端和控制信号输出端；光源组件(2)的输出光束照射在样品环(40)上。
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