[发明专利]一种LED内量子效率的测量装置及其方法有效
| 申请号： | 201110005337.8 | 申请日： | 2011-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN102175428A | 公开（公告）日： | 2011-09-07 |
| 发明（设计）人： | 潘建根 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种LED内量子效率的测量装置和方法，包含激发光束、参考光束、光收集器、测光仪和温控单元。温控单元对光收集器与LED控温，激发光束激发LED发光，光输出稳定的参考光束投射在光学收集器的内壁上，光学收集器收集参考光束和LED发射光，测光仪的取样接口设置在光学收集器壁面上。分别测出高温与低温条件下LED发射光功率和参考光束输出功率即可得出LED的内量子效率。本装置和方法适合测量各种类型的外延材料及LED芯片和LED器件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 量子 效率 测量 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种LED内量子效率的测量装置，包括激发光束(1)、装载被测LED(2)的样品槽(3)、光收集器(4)和测光仪(5)，其特征在于，还包括温控单元(6)，光输出稳定的参考光束(7)，所述的样品槽(3)设置在光收集器(4)的壁面开口上，样品槽(3)的温度由温控单元(2)控制，激发光束(1)从光收集器(4)的入光口(8)进入光收集器(4)并照射到样品槽(3)内的被测LED(2)上，参考光束(7)通过入光口(8)或设在光收集器(4)上的其他入光口照射在光收集器(4)的内壁上；在光收集器(4)的壁面上设置探测窗口(9)，测光仪(5)的取样端口安装在探测窗口(9)上。
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