[发明专利]光学测量设备

摘要

一种光学测量设备，所述光学测量设备包括供安装固定头架（57）的基准支承件（40）、与所述固定头架对置的可动尾架（60）、以及可动托架（100），所述可动尾架能够沿线性轴线（x）移动以靠近或远离所述头架以便将待被测量的工件保持在所述头架（57）到所述尾架（60）之间，所述可动托架能够沿所述线性轴线（x）运动，所述托架承载光源（110），所述光源用于将横穿所述x轴线的准直光导向为由被测量的所述工件遮挡，所述托架还承载有光学检测器（120），所述光学检测器与所述光源（110）对准，并被设置为接收所述准直光的未由被测量的所述工件遮挡的剩余光。所述基准支承件（40）上紧固有直线导向件（47），所述光学托架（100）和所述尾架（60）以可滑动的方式接合在所述导向件（47）上，而所述头架（57）被放置在头架支架（50）上，所述头架支架被紧固到所述基准面上并且至少部分地悬置在所述直线导向件（47）的上方。

主权项

一种光学测量设备，所述光学测量设备包括供安装固定头架（57）的基准支承件（40）、与所述固定头架对置的可动尾架（60）、以及可动光学托架（100），所述光学托架能够在从所述头架（57）到所述尾架（60）的范围内运动，所述尾架和所述光学托架能够沿线性轴线（x）移动，待被测量的工件沿所述x轴线的方向被保持在所述头架（57）到所述尾架（60）之间；所述光学托架（100）承载光源（110），所述光源用于将横穿所述x轴线的光束导向为由被测量的所述工件遮挡，所述光学托架（100）还承载有光学检测器（120），所述光学检测器与所述光源（110）对准，并被设置为接收所述光束的未由被测量的所述工件遮挡的剩余光；所述光学测量设备的特征在于，在所述基准支承件（40）上紧固有一个直线导向件或数个直线导向件（47），所述光学托架（100）和所述尾架（60）以可滑动的方式接合在所述导向件或所述数个导向件（47）上并且能够沿所述x轴线滑动，而所述固定头架（57）被放置在头架支架（50）上，所述头架支架被紧固到基准面上并且至少部分地悬置在所述直线导向件（47）的上方。