[发明专利]用于确定接触元件的耗损的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201080062329.0 申请日: 2010-10-28
公开(公告)号: CN102714101A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: D.施拉格;K.亨肯;E.斯马吉克 申请(专利权)人: ABB研究有限公司
主分类号: H01H1/00 分类号: H01H1/00;H01H33/66
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 汤春龙;朱海煜
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 用于确定电气开关、尤其是用于高或中压的开关设备的接触元件的耗损的方法,所述方法包括电气值(I(t)、U(t))的检测,所述电气值作为时间的函数表示与在开关操作期间在开关上出现的电弧相关的电气变量;和从多个耗损贡献值中计算表示接触元件耗损的耗损值(d),其中在使用多个耗损贡献计算规则(fi)的情况下从所检测电气值的多个值子集(I(ti)、I([ti;ti']))中计算耗损贡献值,使得根据相应耗损贡献计算规则从相应值子集中计算每个耗损贡献值,并且其中至少两个耗损贡献计算规则彼此有区别。
搜索关键词: 用于 确定 接触 元件 耗损 方法 装置
【主权项】:
1. 用于确定电气开关、尤其是真空开关、以及尤其是用于高或中压的开关设备的开关的接触元件的耗损的方法,所述方法包括:- 电气值(I(t), U(t))的检测,所述电气值作为时间的函数表示与在开关操作期间在所述开关上出现的电弧相关的电气变量;和- 从多个耗损贡献值中计算表示所述接触元件的耗损的耗损值(d),其中在使用多个耗损贡献计算规则(fi)的情况下从所检测的电气值的多个值子集中计算所述耗损贡献值,使得根据相应耗损贡献计算规则(fi)从相应值子集中计算每个所述耗损贡献值,并且其中至少两个耗损贡献计算规则(fi)彼此有区别。
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