[发明专利]在存在移动时用于在3D空间中的X射线标志定位的方法有效

专利信息
申请号: 201080062135.0 申请日: 2010-08-26
公开(公告)号: CN102753097A 公开(公告)日: 2012-10-24
发明(设计)人: 大卫·谢伯克 申请(专利权)人: 登塔尔图像科技公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 夏东栋;陆锦华
地址: 美国宾夕*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种确定在投影图像序列中所识别的标志的径向距离(R)、角位置和轴向位置(Z)的方法和系统。本发明的实施例允许可由电子处理单元执行的标志三维定位模块基于由扫描器所生成的图像数据而获得图像序列。该投影图像序列中的每个图像均表示扫描器转动的角度,并且包含标志位置。贯穿所述图像序列,对标志点位置的第一值和第二值的性能进行分析,以确定标志的径向距离、标志的角位置、和标志的轴向位置。因此,本发明的实施例允许在投影图像中对放置于患者上的外部标志快速地进行检测和定位。
搜索关键词: 存在 移动 用于 空间 中的 射线 标志 定位 方法
【主权项】:
1.一种确定在投影图像序列中所识别的标志的径向距离(R)、角位置和轴向位置(Z)的方法,所述方法由包括扫描器、带有电子处理单元的计算机、和存储有可由所述电子处理单元执行的标志三维定位模块的存储器模块的成像系统执行,所述方法包括:在所述计算机处,基于由所述扫描器所产生的图像数据获得图像序列,所述图像序列中的每个图像表示所述扫描器转动的角度,且包含标志点位置,所述标志点位置具有在与所述扫描器的转动的圆形相切的第一维度上的第一值以及在与所述扫描器的转动轴线相平行的第二维度上的第二值;利用所述电子处理单元,贯穿所述图像序列,分析所述标志点位置的所述第一值的性能,以确定所述标志的所述径向距离和所述标志的所述角位置;以及利用所述电子处理单元,贯穿所述图像序列,分析所述标志点位置的所述第二值的性能,以确定所述标志的所述轴向位置。
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