[发明专利]用于使用结构化照明经由单元件检测来分析浑浊介质的方法和设备有效
| 申请号： | 201080061773.0 | 申请日： | 2010-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN102883658A | 公开（公告）日： | 2013-01-16 |
| 发明（设计）人： | D.J.库恰 | 申请（专利权）人： | 调节成像公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 马丽娜;刘春元 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于通过下述来获得一个或多个波长下的组织或浑浊介质的光学性质或结构的定性和定量分析的方法和设备：1）两个或更多结构化光条件下的浑浊介质（诸如组织）的表面上的单个空间位置处的检测或2）单个结构化光条件下的表面上的两个或更多空间位置处的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 使用 结构 照明 经由 元件 检测 分析 浑浊 介质 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于在样本的区域内确定浑浊介质的样本的表面或次表面光学性质和/或结构的设备，包括：源，其用以使样本的区域暴露于一个或多个结构化照明；一个或多个单元件检测器，其被配置为从样本表面上的一个或多个空间位置接收光学信号；以及信号处理器，其被耦合到所述一个或多个单元件检测器并被配置为重构来自一个或多个空间位置的光学数据。
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