[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201080061011.0 | 申请日: | 2010-12-10 |
公开(公告)号: | CN102695957A | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
发明(设计)人: | 森高通;石泽宏明;草野和美;山崎功夫 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/10 | 分类号: | G01N35/10;B01J4/00;G01N1/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强;严星铁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供自动分析装置,当向空的反应容器排出样本时不使样本探针的前端与反应容器的底接触地进行分注动作,能够实现样本探针与反应容器的长寿命化并能够以稳定的分注精度来进行样本的分注。当向反应容器分注时,在样本探针与反应容器底面设置一定的间隙,不是一次性排出设定排出量,而是将设定排出量分割来进行排出,设置第一次的排出时排出的样本润湿扩散于反应容器底面的时间,在样本润湿扩散于反应容器底面后,进行第二次以后的排出,由此能够样本不会被探针带回地以稳定的分注精度来进行样本的分注。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种自动分析装置,其特征在于,具有:探针,其用于排出液体;容器,其用于收容从上述探针排出的液体;注射机构,其控制为使上述探针分成多次来排出上述液体;以及探针驱动机构,其对上述探针的前端与上述容器的底面之间的距离进行控制,以使在分成多次的排出之中的最初的排出时从上述探针排出的试样与上述容器的底面接触。
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