[发明专利]Ⅲ族氮化物半导体的n型接触电极及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201080059112.4 申请日: 2010-12-22
公开(公告)号: CN102687247A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 溜直树;木下亨 申请(专利权)人: 株式会社德山
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L33/36;H01S5/042
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人: 刘粉宝
地址: 日本国山口*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供作为n型氮化物半导体的,例如AlxInyGazN(x、y、z为满足0<x≦1.0、0≦y≦0.1、0≦z<1.0的有理数,x+y+z=1.0)的n型接触电极的形成方法。该方法具有下述工序,即在该n型半导体层上形成从Ti、V、Ta这一组中选出的至少1种金属构成的第一电极金属层后,在800℃以上1200℃以下温度进行热处理的工序、以及在上述第一电极金属层上,形成包含Al等功函数为4.0eV~4.8eV,而且比电阻为1.5×10-6Ω·cm~4.0×10-6Ω·cm的金属构成的层的第二电极金属层后,在700℃以上1000℃以下温度进行热处理的工序。
搜索关键词: 氮化物 半导体 接触 电极 及其 形成 方法
【主权项】:
一种在Ⅲ族氮化物单晶构成的n型半导体层上形成n型接触电极的方法,其特征在于,包含下述工序,即在该n型半导体层上形成Ti、V、Ta这一组中选择出的至少1种构成的金属层形成的第一电极金属层后,在800℃以上1200℃以下温度进行热处理的工序、以及在所述第一电极金属层上形成包含功函数为4.0eV~4.8eV,而且比电阻为1.5×10‑6Ω·cm~4.0×10‑6Ω·cm的金属构成的高导电性金属层的第二电极金属层后,在700℃以上1000℃以下温度进行热处理的工序。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社德山,未经株式会社德山许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201080059112.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top