[发明专利]用于以光学方式测量范围、位置和/或轮廓的传感器及其方法有效
| 申请号： | 201080057087.6 | 申请日： | 2010-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN102687036A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | T·施塔梅斯特;T·奥托 | 申请（专利权）人： | 微－埃普西龙光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/481 | 分类号： | G01S7/481;G01S17/06 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 管琦琦 |
| 地址： | 德国德累斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光学传感器，用于以光学方式测量被测目标体的范围、位置和/或轮廓，所述的被测目标体因被测目标体的温度引发电磁辐射，所述的传感器具有光源和检测器，所述的光源用于被测目标体的表面照明，所述的检测器用于检测被测目标体反射的照明光，其特征在于所述光源产生的光的波长低于被测目标体的普朗克辐射谱的峰值，由此带来甚至可对发射电磁辐射的物体进行测性。详细说明了一种相应的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 方式 测量 范围 位置 轮廓 传感器 及其 方法 | ||
【主权项】：
用于以光学方式测量被测目标体的范围、位置和/或轮廓的传感器，所述的被测目标体因被测目标体的温度引发电磁辐射，所述的传感器具有光源和检测器，所述的光源用于被测目标体的表面照明，所述的检测器用于检测被测目标体反射的照明光，其特征在于：所述光源产生的光的波长低于被测目标体的普朗克辐射谱的峰值。
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