[发明专利]电子器件无效

专利信息
申请号: 201080055966.5 申请日: 2010-12-06
公开(公告)号: CN102652360A 公开(公告)日: 2012-08-29
发明(设计)人: M·克兰科肖;M·道林;D·福赛西;I·格里齐;S·戈达德;A·麦克康奈尔;G·威廉斯 申请(专利权)人: 剑桥显示技术有限公司
主分类号: H01L27/32 分类号: H01L27/32
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 秦晨
地址: 英国*** 国省代码: 英国;GB
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摘要: 一种用于制作包含双堤井限定结构的电子器件的方法,该方法包括:提供电子基板;在基板上沉积第一绝缘材料以形成第一绝缘层;在第一绝缘层上沉积第二绝缘材料以形成第二绝缘层;去除第二绝缘层的一部分以使第一绝缘层的一部分露出以及形成第二井限定堤;在第二绝缘层上以及在所露出的第一绝缘层的一部分上沉积抗蚀剂;去除第一绝缘层中没有抗蚀剂覆盖的部分,以使电子基板的一部分露出以及在第二井限定堤之内形成第一井限定堤;以及去除抗蚀剂。该方法能够提供具有降低的漏电流的器件。
搜索关键词: 电子器件
【主权项】:
一种用于制造包含双堤井限定结构的电子器件的方法,所述方法包括:(a)提供电子基板;(b)在所述基板上沉积第一绝缘材料以形成第一绝缘层;(c)在所述第一绝缘层上沉积第二绝缘材料以形成第二绝缘层;(d)去除所述第二绝缘层的一部分以暴露所述第一绝缘层的一部分并形成第二井限定堤;(e)在所述第二绝缘层上和在所暴露的第一绝缘层的一部分上沉积抗蚀剂;(f)去除所述第一绝缘层中没有被所述抗蚀剂覆盖的部分,以暴露所述电子基板的一部分并在所述第二井限定堤内形成第一井限定堤;以及(g)去除所述抗蚀剂。
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