[发明专利]不对称外延生长及其应用有效
申请号: | 201080050625.9 | 申请日: | 2010-10-05 |
公开(公告)号: | CN102893380A | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | 尹海洲;汪新慧;K.K.钱;任志斌 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军 |
地址: | 美国纽*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供一种形成不对称场效晶体管的方法。该方法包括在半导体基板的顶上形成栅极结构,该栅极结构包括栅极堆叠和邻近于栅极堆叠侧壁的间隔体,且该栅极堆叠具有第一侧以及与第一侧相对的第二侧;从栅极结构的第一侧在基板中执行成角度的离子注入,从而形成邻近于第一侧的离子注入区,其中栅极结构防止成角度的离子注入到达邻近于栅极结构的第二侧的基板;以及在栅极结构的第一侧和第二侧在基板上执行外延生长。因此,离子注入区上的外延生长比未经历离子注入的区域慢得多。由外延生长在栅极结构的第二侧形成的源极区的高度高于由外延生长在栅极结构的第一侧形成的漏极区的高度。还提供一种由此形成的半导体结构。 | ||
搜索关键词: | 不对称 外延 生长 及其 应用 | ||
【主权项】:
一种方法,包括:在半导体基板(110、212/211)的顶上形成栅极结构,所述栅极结构包括栅极堆叠(120、220)和邻近于所述栅极堆叠的侧壁的多个间隔体(131/132、231/232),且所述栅极结构具有第一侧以及与所述第一侧相对的第二侧;从所述栅极结构的所述第一侧在所述基板中执行成角度的离子注入(170、270),从而形成邻近于所述第一侧的离子注入区(114、216),其中所述栅极结构防止所述成角度的离子注入到达邻近于所述栅极结构的所述第二侧的所述基板;以及在所述栅极结构的该第一侧和第二侧在所述基板上执行外延生长(180、280)。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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