[发明专利]用于测量电气设备的损耗因子的仪器和方法有效
申请号: | 201080049797.4 | 申请日: | 2010-10-27 |
公开(公告)号: | CN102597791A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | S·塞拉;G·C·蒙塔纳里 | 申请(专利权)人: | 特英普科技有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;G01R31/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 张东梅 |
地址: | 意大利*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | 一种用于测量具有轴向延伸的细长几何形状的电气设备(2)尤其是中压电缆的损耗因子的仪器(1),包括:至少第一传感器和第二传感器(3A、3B),该第一传感器和第二传感器(3A、3B)可分别连接到设备(2)的沿着设备(2)轴向地隔开预先确定的量的第一测量部位和第二测量部位(4A、4B),且被设计为测量由轴向地流过设备的负载电流在设备(2)外生成的磁场的相应值;处理单元(5),该处理单元(5)被设计为接收由传感器(3A、3B)测量的磁场值且被编程为从它们导出作为在所测量的磁场值之差的函数的负载损耗值。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 电气设备 损耗 因子 仪器 方法 | ||
【主权项】:
一种用于测量具有轴向延伸的细长几何形状的电气设备(2)的损耗因子的仪器(1),其特征在于,它包括:‑至少第一传感器和第二传感器(3A、3B),所述第一传感器和第二传感器(3A、3B)分别可连接到所述设备(2)的沿着所述设备(2)轴向地隔开预先确定的量的第一测量部位和第二测量部位(4A、4B),且被设计为测量在所述第一测量部位和第二测量部位处(4A、4B)由轴向地流过所述设备的负载电流在所述设备(2)外生成的所述磁场信号的相应的值,所述值表示所述磁场信号的振幅;‑处理单元(5),所述处理单元(5)被设计为接收由所述传感器(3A、3B)测量的磁场值,且被编程为从它们导出作为所测量的磁场值之差的函数的负载损耗值,所述差表示在所述测量部位(4A、4B)处所述磁场信号的振幅之差。
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