[发明专利]基于光延迟测量射频、微波或毫米波信号中的相位噪声有效

专利信息
申请号: 201080049101.8 申请日: 2010-09-23
公开(公告)号: CN102667506A 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: 丹尼·埃利亚胡;鲁特·马利基;大卫·塞德尔 申请(专利权)人: 光电波公司
主分类号: G01R29/26 分类号: G01R29/26;G01R29/02;G01R25/00;G01R29/08
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 宋合成
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 用于基于光子延迟测量RF、微波或毫米波信号中的相位噪声的技术和设备。
搜索关键词: 基于 延迟 测量 射频 微波 毫米波 信号 中的 相位 噪声
【主权项】:
一种用于测量信号中的相位噪声的设备,包括:输入端口,从待测振荡器接收振荡信号;第一光子信号处理分支电路,处理所述振荡信号以产生第一分支输出信号;第二光子信号处理分支电路,处理所述振荡信号以产生第二分支输出信号,其中,所述第一和第二光子信号处理分支电路共享光学模块,所述光学模块包括产生第一和第二波长的连续波激光的共享的激光器、调制第一和第二波长的激光以产生载有振荡信号的调制激光的共享的光调制器、从所述共享的光调制器接收调制激光的共享的光学延迟器以及波长选择光学设备,所述波长选择光学设备将通过所述共享的光学延迟器输出的调制激光分路为第一波长的第一调制激光束和第二波长的第二调制激光束,所述第一调制激光束由所述第一光子信号处理分支电路处理以产生所述第一分支输出信号,所述第二调制激光束由所述第二光子信号处理分支电路处理以产生所述第二分支输出信号;以及电路,接收所述第一和第二分支输出信号以测量接收到的振荡信号中的噪声以及控制所述第一和第二光子信号处理分支电路和接收到的振荡信号中的噪声的测量。
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