[发明专利]用于检测物体接近的静电电容式检测装置、传感器单元、控制系统以及其方法有效
| 申请号： | 201080036688.9 | 申请日： | 2010-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN102472827A | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 三浦芳则;守屋仁;六嘉孝信 | 申请（专利权）人： | 胜美达集团株式会社 |
| 主分类号： | G01V3/08 | 分类号： | G01V3/08;B60J5/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种装置以及其使用方法，该装置以及使用方法可以高精度地检测出应被检测出的物体对象的接近。具体而言，计量部(210)计量出第1以及第2传感器电极(120、133)上的杂散电容，根据这里计测出的杂散电容，判定部(220)算出所计量的杂散电容在规定时间长的时间里的平均时间变化率。接着，判定部(220)，判定出是否下述接近检测条件得到了满足，即包含由检测对象以及与前述检测对象的相异处应能被辨别出来的物体的组合而决定的预定时间变化率，与算出的平均时间变化率之间大小关系是属于预定关系的接近检测条件。在这个接近检测条件得到满足的情况下，判定部(220)判定出检测对象已接近。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 物体 接近 静电 电容 装置 传感器 单元 控制系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种静电电容式检测装置，其可以检测出导电性检测对象的接近，其特征为，包括与周围的导体之间形成电容的传感器电极；计量根据前述传感器电极与前述检测对象之间的位置关系而变化的前述传感器电极的杂散容量的计量部；以及在满足以下的条件的情况下，判定前述检测对象的接近的判定部，即包含前述检测部所检测出的杂散容量的时间变化率，和根据前述检测对象以及与该检测对象的相异处应能被辨别出来的物体的组合而决定的预定时间变化率之间的大小关系是属于预定关系的接近检测条件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于胜美达集团株式会社，未经胜美达集团株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080036688.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电子照相感光构件、处理盒和电子照相设备
- 下一篇：聚乙醇酸系纤维和其制造方法
