[发明专利]用于光子吸收系数测量的装置和方法有效
| 申请号： | 201080025663.9 | 申请日： | 2010-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN102458231A | 公开（公告）日： | 2012-05-16 |
| 发明（设计）人： | W·斯廷伯根 | 申请（专利权）人： | 特温特大学 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人： | 徐燕;杨勇 |
| 地址： | 荷兰恩*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种适合于测量组织中定量光子吸收系数的装置和方法，其中所述装置包括：适合于产生光子的第一光源；适合于测量以下至少一个的光测量元件：待被测量的光的强度、频率、频率偏移和相移；适合于在所述组织内的限定体积单元中产生限定声波图样的超声源，其中所述超声源适合于标记进入所述组织内的所述限定体积单元的来自所述第一光源或第二光源的光；以及适合于测量超声的超声测量元件，所述超声来自所述组织内的所述限定体积单元，并由进入所述组织内的所述限定体积单元的所述第一光源的光产生。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光子 吸收系数 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种适合于测量组织(7)中定量光子吸收系数(μa)的装置，该装置包括：‑适合于产生光子的第一光源(1a)；‑适合于测量以下至少一个的光测量元件(25)：待被测量的光的强度、频率、频率偏移和相移；‑适合于在所述组织(7)内的限定体积单元(2)中产生限定声波图样(15)的超声源(14)；‑其中所述超声源(14)适合于标记进入所述组织(7)内的所述限定体积单元(2)的来自所述第一光源(1a)或第二光源(1b)的光；‑适合于测量超声的超声测量元件(26)，所述超声来自所述组织(7)内的所述限定体积单元(2)，并由进入所述组织(7)内的所述限定体积单元(2)的所述第一光源(1a)的光产生。
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