[发明专利]流式粒子图像分析方法和装置有效

专利信息
申请号: 201080024498.5 申请日: 2010-05-17
公开(公告)号: CN102460115B 公开(公告)日: 2012-05-16
发明(设计)人: 万里千裕;大和田伯男;光山训 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;郭凤麟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 能够高精度并且高效地进行聚焦点调整,高精度地检查聚焦点位置的偏离、样本液的流动的厚度。在多个不同的焦点位置上,根据由均匀的物质构成的标准粒子的图像取得调焦用参数值。作为标准粒子图像的中心附近的浓度值与轮廓附近的浓度值的比或差、或者中心附近的浓度值来求出调焦用参数值。根据得到的调焦用参数值与焦点位置的关系,调整聚焦点位置。另外,根据调焦用参数值与焦点位置的关系,将参数值换算为焦点位置,根据焦点位置及其波动,检查聚焦点位置的偏离和样本液的厚度。
搜索关键词: 粒子 图像 分析 方法 装置
【主权项】:
一种流式粒子图像分析方法,其对拍摄被鞘液包围而流动的样本液所得到的粒子图像进行分析,使包含由均匀的物质构成的球状的标准粒子的样本液在流动池中流动,通过包含物镜的拍摄部对上述标准粒子进行拍摄,取得静止图像,所述流式粒子图像分析方法的特征在于,具有:根据上述静止图像,作为粒子图像特征参数值,计算粒子图像的中心附近的浓度值与轮廓附近的浓度值的比、或者粒子图像的中心附近的浓度值与轮廓附近的浓度值的差的步骤;以及根据上述参数值,进行上述拍摄部的调焦的步骤。
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