[发明专利]用于测量材料厚度的装置和方法

摘要

用于测量检测物体的材料厚度的装置和系统。在一个实施例中，该装置可以包括测量探头，其可以具有多个换能器元件，这些换能器元件可以包括分别设置在间隙中的第一侧和第二侧上的传送器元件和接收器元件。该第一侧和该第二侧可以形成具有至少一个有源组合的扫描区，该有源组合可以具有至少一个传送器元件和至少一个接收器元件，该接收器元件可以与处于间隔关系的该传送器元件分开。

主权项

一种用于测量材料厚度的测量系统，所述系统包括：测量探头，其包括具有纵轴线的延迟块和采用形成有源组合的方式声耦合于所述延迟块的多个换能器元件，所述有源组合包括用于产生超声束的传送器侧和用于接收回声信号的接收器侧，所述接收器侧与该所述传送器侧是间隔关系，所述间隔关系形成围绕所述纵轴线的间隙，所述间隙包括采用使所述传送器侧与所述接收器侧在声学上分开的方式设置的串扰屏障；和耦合于所述测量探头的检测仪器，所述检测仪器包括界面，所述界面采用引起所述超声束的第一参数的方式控制所述有源组合中的至少一个换能器元件，所述控制形成第一有源组合和第二有源组合，所述第二有源组合具有不同于所述第一有源组合的数量的换能器元件；其中，所述接收器侧包括响应于对应于所述超声束的回声的至少一个换能器元件。