[发明专利]基于低剂量单步光栅的X射线相位衬度成像

摘要

相敏X射线成像方法可以提供与传统的基于吸收的成像相比基本上增加的衬度，并且因此提供新的且否则不可访问的信息。在硬X射线相位成像中将光栅作为光学元件的使用克服了已经损害相位衬度在X射线放射照相术和断层照相术中的更广泛应用的某些问题。到目前为止，为了将相位信息从利用光栅干涉仪检测的其他贡献中分离出来，已经考虑了相位步进方法，其隐含着对多个放射照相投影的获取。在这里，基于光栅干涉仪提出了创新的、高度灵敏的X射线断层照相相位衬度成像方法，其提取相位衬度信号而无需相位步进。与现有的相位步进方法相比，称为“反向投影”的该新方法的主要优势是显著地降低了传递的剂量而图像质量没有降级。该新技术为未来的快速和低剂量的相位衬度成像方法设置了先决条件，为成像生物标本和活体内研究设置了基础。

主权项

一种用于从样本获得定量X射线图像的、针对X射线尤其是硬X射线的干涉仪，包括：a）X射线源（X射线）；b）优选地为透射几何形状的除布拉格晶体之外的衍射光学元件，下文称作分束器光栅（G1）；c）具有空间调制检测灵敏度的位置敏感检测器（PSD），其具有多个独立像素；d）用于记录所述检测器（PSD）的图像的装置；e）用于评估一系列图像中每个像素的强度从而针对每个独立像素将对象的特性标识为吸收主导像素和/或差分相位衬度主导像素和/或X射线散射主导像素的装置；其中通过从0到π或2π连续旋转或步进旋转样本或相对于所述样本连续旋转或步进旋转所述干涉仪和所述源来采集图像系列。