[实用新型]非接触光学测量系统有效

专利信息
申请号: 201020645122.3 申请日: 2010-12-07
公开(公告)号: CN201897466U 公开(公告)日: 2011-07-13
发明(设计)人: 小坂春男 申请(专利权)人: 小坂春男
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/14
代理公司: 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 代理人: 马家骏
地址: 200082 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种非接触光学测量系统,包括底座以及安装在底座上的XY工作台和立柱,立柱上安装有可上下移动的Z轴,Z轴上安装有可上下移动的支撑部,支撑部上设有目镜、物镜和LED照明系统,Z轴上安装有光栅尺,光栅尺的滑座与支撑部相连,支撑部上安装有切换部,切换部内设有至少两种十字标记,十字标记由上下两部分组成。其采用光学焦点位置检测方式进行非接触高低测量,不仅可以对准目标影像,还能观察测量点的表面状态、高度、深度、高低差等进行测量;效率高,测量精度高,测量准确,无随机误差,不会因个人差异导致测量数据存在偏差;非接触测量不使用时,可以切换掉十字标记,变为常用金相显微镜来用。
搜索关键词: 接触 光学 测量 系统
【主权项】:
一种非接触光学测量系统,包括底座(1)以及安装在底座(1)上的XY工作台(2)和立柱(3),立柱(3)上安装有可上下移动的Z轴(4),Z轴(4)上安装有可上下移动的支撑部(5),支撑部(5)上设有目镜(6)、物镜(7)和LED照明系统(8),其特征在于:Z轴(4)上安装有光栅尺(9),光栅尺(9)的滑座与支撑部(5)相连,支撑部(5)上安装有切换部(10),切换部(10)内设有至少两种十字标记,十字标记由上下两部分组成。
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