[实用新型]传感器老化测试装置有效
| 申请号： | 201020643499.5 | 申请日： | 2010-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN201867202U | 公开（公告）日： | 2011-06-15 |
| 发明（设计）人： | 赵雪;欧瑞萍 | 申请（专利权）人： | 北京七星华创电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;赵镇勇 |
| 地址： | 100016 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种传感器老化测试装置，包括相互电连接的传感器加速老化台和可调直流电源，传感器加速老化台设有多个传感器加速老化工位，每个传感器加速老化工位包括传感器的安装孔、接线端子排和指示灯，可调直流电源设有可调电位器。可以进行传感器的老化指标的测试，使用方便、检测结果准确，可以满足更多不同的老化要求。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种传感器老化测试装置，其特征在于，包括相互电连接的传感器加速老化台和可调直流电源，所述传感器加速老化台设有多个传感器加速老化工位，每个传感器加速老化工位包括传感器的安装孔和接线端子排。
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