[实用新型]光电式建筑构件挠度测试仪有效

专利信息
申请号: 201020628782.0 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN102346018A 公开(公告)日: 2012-04-11
发明(设计)人: 汪哲荪;方诗圣;徐马云龙 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 代理人: 余成俊
地址: 230009 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种光电式建筑构件挠度测试仪,在相对不位移物体的支架上安置有水平激光基准器,在被测建筑构件底部的各个测点上安置有数个测点器,水平激光基准器内的各激光发射器分别向其对应的测点器发出基准激光,各测点器内的取光器自动跟踪接受对应的基准激光,在水平激光基准器铅直下方的相对不位移物体上安置有激光对准靶,水平激光基准器内的铅直激光对准器向该靶发射对准激光,取光器连接有位移传感器、挠度处理器。本发明不需要在梁或板的底下搭建脚手架来支撑和固定位移传感器,而采用具有方向性强、单色性和相干性好的光谱特性的激光,非接触地进行构件挠度测试,大大地改善了挠度测试的条件,提高了挠度测试的精度。
搜索关键词: 光电 建筑 构件 挠度 测试仪
【主权项】:
一种光电式建筑构件挠度测试仪,其特征在于:在相对不位移物体(1)的支架(3)上安置有水平激光基准器(21),在被测建筑构件(2)底部的各个测点上安置有数个测点器(41),水平激光基准器(21)内的各激光发射器(36)分别向其对应的测点器(41)发出基准激光(4),各测点器(41)内的取光器(81)自动跟踪接受对应的基准激光(4),在水平激光基准器(21)铅直下方的相对不位移物体(1)上安置有激光对准靶(12),水平激光基准器(21)内的铅直激光对准器(11)向该靶(12)发射对准激光(13),取光器(81)连接有位移传感器(54)、挠度处理器。
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