[实用新型]背光设备和阵列基板检测装置有效

专利信息
申请号: 201020536158.8 申请日: 2010-09-17
公开(公告)号: CN201845148U 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 卜云龙;赵海生 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 100176 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种背光设备和阵列基板检测装置。该阵列基板检测装置包括移动台和背光设备,其中:所述移动台上设置有第一磁力装置;所述背光设备包括背光灯,以及设置在所述背光灯上的第二磁力装置;所述移动台和背光设备之间设置有透光板,所述背光灯在所述第一磁力装置和第二磁力装置之间的磁力作用下抵触在所述透光板上。本实用新型通过在背光灯上设置磁力装置,可与移动台上的磁力装置配合,使得背光灯可在磁力作用下与移动台同步移动,可有效实现对阵列基板上不良像素点的检测。
搜索关键词: 背光 设备 阵列 检测 装置
【主权项】:
一种背光设备,其特征在于,包括:背光灯,所述背光灯上设置有用于驱动背光灯移动的磁力装置。
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