[实用新型]一种时序测试电路有效

专利信息
申请号: 201020190362.9 申请日: 2010-05-10
公开(公告)号: CN201707396U 公开(公告)日: 2011-01-12
发明(设计)人: 邱靖宇;黄波;曹帮林;刘波;吴灿;刘林梅;赵雅丽;尹刚;周志久 申请(专利权)人: 北京航天自动控制研究所
主分类号: G01R29/00 分类号: G01R29/00;G08G5/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 臧春喜
地址: 100854 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种时序测试电路,包括电阻R1、R2、R3、电容C1和光电耦合器U1,被测时序信号经限流电阻R1,再经电阻R2和电容C1并联形成的RC滤波器引至光电耦合器U1的输入端,光电耦合器U1的输出端正端串联电阻R3后接电源Vcc,光电耦合器U1输出端正端直接引出作为测试信号至测试计算机的I/O口进行采样,光电耦合器U1输出端负端接地。相比现有的时序测试方法,本实用新型解决了时序无法测试的问题,同时采用光电耦合器对时序信号进行光电隔离后再进行测试,保证了后端采集到的测试信号的有效性和可靠性,同时,光耦的输入端并联RC滤波器,有效减少时序测试线路上的干扰,提高了时序测试电路的可靠性。
搜索关键词: 一种 时序 测试 电路
【主权项】:
一种时序测试电路,其特征在于:包括测试输入接口电路和光耦测试输出电路,所述的测试输入接口电路包括限流电阻R1、电阻R2和电容C1,电阻R2和电容C1并联组成RC滤波器,RC滤波器与限流电阻R1串联后组成测试输入接口电路;所述的光耦测试输出电路包括光电耦合器U1和电阻R3,光电耦合器U1的两个输入端分别与RC滤波器的两端相连,光电耦合器U1的输出正端与电阻R3串联后接电源Vcc,光电耦合器U1的输出负端接地,光电耦合器U1的输出正端引出作为测试信号输出至测试计算机进行采样。
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