[实用新型]测量镜面反射表面的相对位置的装置有效
申请号: | 201020189349.1 | 申请日: | 2010-04-30 |
公开(公告)号: | CN201803699U | 公开(公告)日: | 2011-04-20 |
发明(设计)人: | S·波塔彭科 | 申请(专利权)人: | 康宁股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 刘佳 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 提供了一种用于测量对象的镜面反射面沿测量线的相对位置的装置,包括:光源,所述光源产生会聚于所述测量线上的标称位置处的至少一个光束,并形成来自所述镜面反射面的反射光束;光检测器,所述光检测器在检测器平面处记录所述反射光束的图像;以及数据分析仪,所述数据分析仪从所述光检测器接收记录、处理并分析所述记录以确定所述反射光束的图像在所述检测器平面中的位置、以及将所述位置转换成所述镜面反射面沿所述测量线离所述标称位置的位移。 | ||
搜索关键词: | 测量 反射 表面 相对 位置 装置 | ||
【主权项】:
一种用于测量对象的镜面反射面沿测量线的相对位置的装置,包括:光源,所述光源产生会聚于所述测量线上的标称位置处的至少一个光束,并形成来自所述镜面反射面的反射光束;光检测器,所述光检测器在检测器平面处记录所述反射光束的图像;以及数据分析仪,所述数据分析仪从所述光检测器接收记录、处理并分析所述记录以确定所述反射光束的图像在所述检测器平面中的位置、以及将所述位置转换成所述镜面反射面沿所述测量线离所述标称位置的位移。
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