[实用新型]电器测试用接线柱结构改良无效
| 申请号： | 201020147842.7 | 申请日： | 2010-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN201673175U | 公开（公告）日： | 2010-12-15 |
| 发明（设计）人： | 黄孝明 | 申请（专利权）人： | 深圳市新松科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市中知专利商标代理有限公司 44101 | 代理人： | 杨林 |
| 地址： | 518126 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种电器测试用接线柱结构改良，包括接线柱，接线柱的接触头端面呈V形，其特征在于：所述V形端面底部至接线柱中部设有通槽，将接线柱上部分成两部分。接线柱中部设有通孔，通孔与通槽连通，通孔直径大于通槽宽度。接线柱端部外侧设有倒角。本实用新型结构简单，对现有的接柱结构稍加改良，即达到面面接触的目的，接触良好，不会发生接触点发热的现象，保正了检测的正常进行，保护了检测设备及产品的安全，减少了发热检查的环节，节约了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 电器 测试 接线柱 结构 改良 | ||
【主权项】：
一种电器测试用接线柱结构改良，包括接线柱，接线柱的接触头端面呈V形，其特征在于：所述V形端面底部至接线柱中部设有通槽，将接线柱上部分成两部分。
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