[发明专利]一种用60Coγ射线开展位移损伤试验的装置

摘要

本发明涉及一种用60Coγ射线开展位移损伤试验的装置，属于空间应用技术领域。所述装置为铝屏蔽层，所述铝屏蔽层放置在60Coγ射线辐照源与辐照样品之间，60Coγ射线辐照源发射出的60Coγ射线经过屏蔽层后到达辐照样品，屏蔽层的厚度为15～120mm；优选铝屏蔽层将辐照样品封闭包围，其中正对60Coγ射线辐照源的铝屏蔽层一面的厚度为15～120mm。本发明所述铝屏蔽层使60Coγ射线在受辐照样品中产生均匀位移损伤剂量沉积，相比样品直接暴露在60Coγ射线辐照场，克服了由于位移损伤在材料表面随入射深度急剧变化造成的误差。

主权项

一种用60Coγ射线开展位移损伤试验的装置，其特征在于：所述装置为铝屏蔽层，所述铝屏蔽层放置在60Coγ射线辐照源与辐照样品之间，60Coγ射线辐照源发射出的60Coγ射线经过屏蔽层后到达辐照样品，屏蔽层的厚度为15～120mm。