[发明专利]超高频射频识别电子标签天线大规模生产在线测试方法有效
| 申请号： | 201010616164.9 | 申请日： | 2010-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN102162824A | 公开（公告）日： | 2011-08-24 |
| 发明（设计）人： | 尹应增;崔恒荣;徐明;陆云龙;孙晓玮 | 申请（专利权）人： | 中科院杭州射频识别技术研发中心;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 杭州赛科专利代理事务所 33230 | 代理人： | 陈辉 |
| 地址： | 310011 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及超高频射频识别电子标签天线大规模生产在线测试方法，其特征在于：测试方法的步聚是：首先，通过探针末端金属小圆盘和标签天线贴芯片的焊盘处进行容性耦合；其次，将探针耦合下来的信号通过补偿巴伦进行平衡-不平衡和阻抗变换；然后，将通过补偿巴伦变换下来的信号再通过槽线反射计原理，采样提取出槽线上几个固定点的功率信息；最后，利用获得的这几个点功率信息，通过处理计算，就可获得端口加载的反射系数，从而推算出标签天线的输入阻抗。本发明的有益效果是在标签贴上芯片之前，测量出标签天线的输入阻抗，有效的降低生产成本，精确的反映出标签天线与芯片之间的匹配程度，并且适合各种类型的标签天线的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 超高频 射频 识别 电子标签 天线 大规模 生产 在线 测试 方法 | ||
【主权项】：
超高频射频识别电子标签天线大规模生产在线测试方法，其特征在于：测试方法的步聚是：首先，通过探针末端金属小圆盘和标签天线贴芯片的焊盘处进行容性耦合；其次，将探针耦合下来的信号通过补偿巴伦进行平衡‑不平衡和阻抗变换；然后，将通过补偿巴伦变换下来的信号再通过槽线反射计原理，采样提取出槽线上几个固定点的功率信息；最后，利用获得的这几个点功率信息，通过处理计算，就可获得端口加载的反射系数，从而推算出标签天线的输入阻抗。
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