[发明专利]一种用于物联网的中近场测量系统及方法无效

专利信息
申请号: 201010607328.1 申请日: 2010-12-27
公开(公告)号: CN102565547A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 刘若鹏;徐冠雄;杨松涛;何振明;王今金;赖少祥;李岳峰;廖臻;陈智超;石小红 申请(专利权)人: 深圳光启高等理工研究院
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 丁建春;李庆波
地址: 518057 广东省深圳市南山区高*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种用于物联网的中近场测量系统及方法。该测量系统包括:电磁场测量装置,测量一测量空间中的一测量位置及测量方向上的中近场的电场和/或磁场的幅度值和相位值;位置遍历装置,改变电磁场测量装置的测量位置及测量方向,以遍历测量空间;控制装置,控制位置遍历装置的移动及电磁场测量装置的测量。通过上述方式,利用位置遍历装置遍历测量空间,可以获取测量空间中任意一点的中近场在多个方向上的电场和/或磁场的幅度值和相位值,具有使用灵活、应用范围广的优点。
搜索关键词: 一种 用于 联网 近场 测量 系统 方法
【主权项】:
一种用于物联网的中近场测量系统,其特征在于,包括:电磁场测量装置,测量一测量空间中的一测量位置及测量方向上的中近场的电场和/或磁场的幅度值和相位值;位置遍历装置,改变所述电磁场测量装置的所述测量位置及所述测量方向,以遍历所述测量空间;控制装置,控制所述位置遍历装置的移动及所述电磁场测量装置的测量。
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