[发明专利]一种针对PHY高速接口电路的BIST自动测试电路及测试方法

摘要

本发明公开了一种针对PHY高速接口电路的BIST自动测试电路及测试方法。该测试电路包括：具有控制信号和数据自动生成功能和结果比较功能的BIST控制电路，模拟电路参数控制扫描链，两个选择器，测试结果输出电路。该测试方法步骤包括：（1）进入ATPG扫描模式；（2）通过扫描链配置PHY高速接口电路的参数及PLL电路的参数；（3）进入PHYBIST测试模式；（4）开始自动生成测试向量，测量向量被输入PHY高速接口电路；（5）数据通过内建的环回方式返回，比较返回数据的正确性；（6）输出测试结果。本发明的测试电路可以在实速模式下对PHY高速接口电路进行有效的测试，硬件开销小，控制简单，降低了ATE所使用的测试向量的复杂度和测试时间。

主权项

一种针对PHY高速接口电路的BIST自动测试电路，其特征在于，所述BIST自动测试电路包括：BIST控制电路，其用于生成输出端测试控制信号、测试数据信号以及输入端测试控制信号；第一选择器，其用于在输出端实际控制信号、实际待发送数据和由所述BIST控制电路生成的输出端测试控制信号、测试发送数据信号之间进行选择；第二选择器，其用于在输入端实际控制信号和由所述BIST控制电路生成的输入端测试控制信号之间进行选择；所述第一选择器和所述第二选择器的输出端耦合至所述PHY高速接口电路，其中，所述PHY高速接口电路的输出信号被环回至该高速接口电路的输入端。