[发明专利]一种核聚变装置光学窗口透过率测量装置有效

专利信息
申请号: 201010602469.4 申请日: 2010-12-23
公开(公告)号: CN102564732A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 刘春华;黄渊;冯震 申请(专利权)人: 核工业西南物理研究院
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于光学测量领域,具体涉及一种核聚变装置光学窗口透过率测量装置。本发明的装置包括光源模块、探测模块、数据采集设备(10)和数据分析设备(11),其中,光源模块位于核聚变装置光学窗口(5)的内侧,探测模块位于核聚变装置光学窗口(5)的外侧,探测模块将信号传输至数据采集设备(10),数据分析设备(11)接收数据采集设备(10)的各路信号。本发明能够解决核聚变装置光学窗口透过率的测量问题,达到了准确测量可见光波段和近红外波段波长范围内光线穿过被污染的光学窗口的透过率的技术效果。
搜索关键词: 一种 聚变 装置 光学 窗口 透过 测量
【主权项】:
一种核聚变装置光学窗口透过率测量装置,其特征在于:该装置包括光源模块、探测模块、数据采集设备(10)和数据分析设备(11),其中,光源模块位于核聚变装置光学窗口(5)的内侧,探测模块位于核聚变装置光学窗口(5)的外侧,探测模块将信号传输至数据采集设备(10),数据分析设备(11)接收数据采集设备(10)的各路信号;其中,光源模块包括LED安装盒(12)、光源准直通光组件(2)和遮挡板(4),三者与所述光学窗口(5)的距离依次减小,其中,LED安装盒(12)安装有以m×n阵列形式排列的若干个LED发光二极管(1),1≤m≤10,1≤n≤10,所有LED发光二极管(1)的发光中心波长各不相同,且均处于400~1700nm范围内;光源准直通光组件(2)为设有光源准直通光孔(3)的长方体,其一端面与LED安装盒(12)相连接,所述光源准直通光孔(3)的数量和位置与所述LED发光二极管(1)相应;遮挡板(4)与光源准直通光组件(2)的另一端面相接触,通过移动遮挡板(4)的位置能够控制光源准直通光孔(3)的开启/闭合;探测模块包括探测准直通光组件(13)和探测器安装盒(14),二者与所述光学窗口(5)的距离依次增大,其中,探测准直通光组件(13)为设有探测准直通光孔的长方体,其一端面与所述光学窗口(5)相接触,所述探测准直通光孔的数量和位置与所述光源准直通光孔(3)相应;探测器安装盒(14)与探测准直通光组件(13)的另一端面相连接,探测器安装盒(14)安装有若干个光电探测器(8),光电探测器(8)的数量和位置与所述探测准直通光孔相应;所述每个光电探测器(8)分别通过数据传输线与数据采集设备(10)相 连接;数据采集设备(10)与数据分析设备(11)通过数据传输线相连接。
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