[发明专利]大批量检测磁瓦的方法

摘要

本发明公开了一种大批量检测磁瓦的方法，它通过制作上、下限尺寸检具，两检具均包括中心的弧形拱高、两侧呈90°夹角的斜面、以及倒角平面，两检具的弧形拱高半径及弧长均与需检测磁瓦的内弧下限尺寸相同，弧形拱高的高度均与需检测的磁瓦的内弧拱高高度上限尺寸相同，两检具的倒角平面长度均取磁瓦倒角平面长度的下限尺寸，上、下限尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长分别与磁瓦的上、下限弧长相同；将磁瓦分别置于两检具上，通过观测磁瓦与检具的间隙来判断磁瓦是否合格；本发明可检测出中心距、而且可检测出磁瓦内弧的半径、弧长和拱高误差是否符合要求，并提高了检测速度，具有操作误差小、可重覆性好、检测效率高的优点，保证了检测结果的准确性。

主权项

一种大批量检测磁瓦的方法，其特征在于包括以下步骤：1）制作检具：制作一上限尺寸检具和一下限尺寸检具，两检具均包括中心的弧形拱高、两侧呈90°夹角的斜面、以及连接弧形拱高每端部与对应斜面端部的倒角平面，两检具的弧形拱高半径及弧长均与需检测磁瓦的内弧下限尺寸相同，弧形拱高的高度均与需检测的磁瓦的内弧拱高高度上限尺寸相同，两检具的倒角平面长度均取磁瓦倒角平面长度的下限尺寸，上限尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长与需检测磁瓦的上限弧长相同，下限尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长与需检测磁瓦的下限弧长相同；2）下限尺寸检具检测：将磁瓦的一斜面向下紧贴下限尺寸检具的对应斜面，观测磁瓦的另一斜面与下限尺寸检具的对应斜面是否有间隙，如有间隙，表示该磁瓦不合格；如无间隙，则继续观测磁瓦的倒角平面与该检具的倒角平面之间、以及磁瓦的内弧与检具的弧形拱高之间是否均有间隙，如均有间隙，该磁瓦通过本步骤；如二者之一无间隙，表示该磁瓦不合格；3）上限尺寸检具检测：将通过步骤2）的磁瓦的一端斜面向下紧贴上限尺寸检具的对应斜面，观测磁瓦的另一斜面与该检具的对应斜面是否有间隙，如无间隙，表示该磁瓦不合格；如有间隙，则继续观测：若磁瓦的倒角平面与检具的倒角平面之间有间隙、磁瓦的内弧中部与检具的弧形拱高无间隙，则表明该磁瓦最终合格；如观测到前者无间隙，或后者有间隙，则表明该磁瓦均不合格。